江西定制MOS管 江苏芯钻时代电子科技供应

    低压mos管与高压mos管的区别是什么？如何分类？一、MOS的构造MOS管的构造是在一块掺杂浓度较低的P型半导体硅衬底上，用半导体光刻、扩散工艺制作两个高掺杂浓度的N+区，并用金属铝引出两个电极，分别作为漏极D和源极S。然后在漏极和源极之间的P型半导体表面复盖一层很薄的二氧化硅（Si02）绝缘层膜，在再这个绝缘层膜上装上一个铝电极，作为栅极G。这就构成了一个N沟道（NPN型）增强型MOS管。它的栅极和其它电极间是绝缘的。同样用上述相同的方法在一块掺杂浓度较低的N型半导体硅衬底上，用半导体光刻、扩散工艺制作两个高掺杂浓度的P+区，及上述相同的栅极制作过程，就制成为一个P沟道（PNP型）增强型MOS管。图1-1所示（a）、（b）分别是P沟道MOS管道结构图和符号。二、MOS管的分类MOSFET是FET的一种（另一种是JFET），可以被制造成增强型或耗尽型，P沟道或N沟道4种类型，但实际应用的只有增强型的N沟道MOS管和增强型的P沟道MOS管，所以通常提到NMOS，或者PMOS指的就是这两种。MOS管的分类方法有多种分类方法：1、按电压分类可分为中低压mos管和高压mos管2、按功率分类可分为大功率、率和小功率mos管3、可分为结型管和绝缘栅型(1)、结型管。

    器件的结温等于大环境温度加上热阻与功率耗散的乘积（结温=大环境温度+［热阻×功率耗散］）。根据这个式子可解出系统的大功率耗散，即按定义相等于I2×RDS（ON）。我们已将要通过器件的大电流，可以计算出不同温度下的RDS（ON）。另外，还要做好电路板及其MOS管的散热。雪崩击穿是指半导体器件上的反向电压超过大值，并形成强电场使器件内电流增加。晶片尺寸的增加会提高抗雪崩能力，终提高器件的稳健性。因此选择更大的封装件可以有效防止雪崩。4.选择MOS管的后一步是决定MOS管的开关性能。影响开关性能的参数有很多，但重要的是栅极/漏极、栅极/源极及漏极/源极电容。这些电容会在器件中产生开关损耗，因为在每次开关时都要对它们充电。MOS管的开关速度因此被降低，器件效率也下降。为计算开关过程中器件的总损耗，要计算开通过程中的损耗（Eon）和关闭过程中的损耗（Eoff）。MOSFET开关的总功率可用如下方程表达：Psw=（Eon+Eoff）×开关频率。而栅极电荷（Qgd）对开关性能的影响大。

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