浙江哪里有模块批发价 江苏芯钻时代电子科技供应

    测试温度范围Tj=25°及125°。IGBT模块动态测试参数及指标测试单元对IGBT模块和FRD的动态参数及其他参数的定义满足国际标准IEC60747-9以及IEC60747-2。以下参数的测试可以在不同的电压等级、电流等级、温度、机械压力、回路寄生电感以及不同的驱动回路参数下进行。1）动态测试参数IGBT的开通和关断波形及其相关参数的定义如图2、图3所示。1）图2IGBT开通过程及其参数定义动态测试参数IGBT的开通和关断波形及其相关参数的定义如图2、图3所示。图2IGBT开通过程及其参数定义图3IGBT关断过程及其参数定义表格2可测量的IGBT动态参数参数名称符号参数名称符号开通延迟时间td(on)关断延迟时间td(off)上升时间tr下降时间tf开通时间ton关断时间toff开通损耗Eon关断损耗Eoff栅极电荷Qg短路电流ISC//可测量的FRD动态参数参数名称符号参数名称符号反向恢复电流IRM反向恢复电荷Qrr反向恢复时间trr反向恢复损耗Erec*2）动态测试参数指标表格4IGBT动态测试参数指标主要参数测试范围精度要求测试条件Vce集射极电压150～1500V150～500V±3%±1V；500～1000V±2%±2V；1000～1500V±1%±5V；150～1500VIc集射极电流1～1200A1～200A±3%±1A；200～1200A±3%±2A。

    目前，为了防止高dV/dt应用于桥式电路中的IGBT时产生瞬时集电极电流，设计人员一般会设计栅特性是需要负偏置栅驱动的IGBT。然而提供负偏置增加了电路的复杂性，也很难使用高压集成电路（HVIC）栅驱动器，因为这些IC是专为接地操作而设计──与控制电路相同。因此，研发有高dV/dt能力的IGBT以用于“单正向”栅驱动器便**为理想了。这样的器件已经开发出来了。器件与负偏置栅驱动IGBT进行性能表现的比较测试，在高dV/dt条件下得出优越的测试结果。为了理解dV/dt感生开通现象，我们必须考虑跟IGBT结构有关的电容。图1显示了三个主要的IGBT寄生电容。集电极到发射极电容C，集电极到栅极电容C和栅极到发射极电容CGE。图1IGBT器件的寄生电容这些电容对桥式变换器设计是非常重要的，大部份的IGBT数据表中都给出这些参数：输出电容，COES＝CCE＋CGC（CGE短路）输入电容，CIES＝CGC＋CGE（CCE短路）反向传输电容，CRES＝CGC图2半桥电路图2给出了用于多数变换器设计中的典型半桥电路。集电极到栅极电容C和栅极到发射极电容C组成了动态分压器。当**IGBT（Q2）开通时，低端IGBT（Q1）的发射极上的dV/dt会在其栅极上产生正电压脉冲。对于任何IGBT。

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