专谱LIBS（激光诱导击穿光谱）系统是一种先进的光谱分析技术，广泛应用于材料成分分析和元素检测。以下是关于专谱LIBS系统的详细介绍，包括其技术原理、应用领域和系统特点：技术原理LIBS技术通过高能量激光脉冲聚焦于样品表面，使样品表面的少量材料被烧蚀并激发成等离子体。等离子体中的原子和离子在冷却过程中会发射特征光谱，通过光谱仪和检测器对这些光谱进行分析，可以确定样品的元素组成。LIBS技术具有以下特点：无需样品制备：几乎无需对样品进行预处理，适用于固体、液体、气体等多种形态的样品。快速分析：检测速度快，可实现原位检测。多元素分析：能够同时检测多种元素，包括轻元素（如锂、硼）和重元素。高空间分辨率：能够对固体异质材料进行高空间分辨率采样和分析。光谱测量：实时采集光谱信息数据，控制二维电动平台移动，多种存储方式保存二维Mapping数据和图片。天津Sers芯片专谱光电哪家好
生物光学和量子光学专谱光电在生物光学和量子光学领域也有丰富的经验，提供多种解决方案，包括：共聚焦激光扫描显微系统：如 ProSp-Con50i，用于高分辨率成像。SERS 基底：用于表面增强拉曼光谱测量，适用于痕量分析和医学诊断。4. 光电检测设备专谱光电还提供多种光电检测设备，包括：功率计和能量计：用于测量光功率和能量。光束分析仪：用于分析光束质量。光电探测器：用于高灵敏度光检测。5. 实验样品专谱光电提供多种实验样品，包括：荧光粒子：用于生物医学研究。单粒子：适用于科研领域。功能化颗粒：用于多种实验应用。总结专谱光电的产品线涵盖了从光谱仪器到激光器系统，再到光电检测设备和实验样品的多个领域。其产品在科研、工业和环境监测等领域具有广泛的应用，为用户提供了***的解决方案。天津全角度辐射光谱测量专谱光电供应商Mapping光谱测量：通过二维扫描台，对样品进行区域扫描，获取空间分辨的光谱信息。
杭州专谱光电技术有限公司（Hangzhou SPL Photonics Co., Ltd.）是一家专注于光谱仪器、激光器系统及配件、生物光学和量子光学等领域的企业。公司提供多种高性能的光电产品和解决方案，广泛应用于科研、工业和环境监测等领域。1. 光谱仪器专谱光电提供多种光谱仪器，包括：显微光谱测量系统：如 ProSp-Micro 系列，集成了反射、荧光和拉曼光谱测量功能，适用于多种科研应用。角分辨光谱测量系统：用于测量材料的反射率、透射率和散射特性。LIBS 光谱测量系统：用于快速检测材料的成分。膜厚光谱测量系统：用于测量薄膜的厚度和折射率。2. 激光器系统专谱光电代理多种高性能激光器，包括：半导体激光器：用于多种科研和工业应用。超紧凑纳秒激光器：适用于高重复频率的实验。超快激光器：用于需要高时间分辨率的实验。窄线宽激光器：适用于需要高光谱分辨率的应用
ProSp 芯片：技术参数与应用领域1. ProSp 芯片技术参数ProSp 芯片是一种高性能的显微光谱测量系统的**组件，广泛应用于多种光谱测量和成像应用。以下是其主要技术参数和特点：光谱范围：覆盖从 380 nm 到 2500 nm，适用于紫外、可见光和近红外光谱测量。显微光谱模块：采用共焦光路设计，优化了系统性能，能够实现高分辨率的光谱测量。多功能集成：系统支持显微荧光、显微拉曼和显微反射等多种光谱测量模式。模块化设计：显微光谱模块可以集成到大部分通用的正置显微镜中，实现显微光谱测量。滤波片槽：模块中带有两个滤波片槽，可以放置激发滤波片和发射滤波片，实现不同激发波长的显微荧光测量。光斑大小：光斑大小小于 1 微米（@100X，单模光纤耦合输入），专谱LIBS（激光诱导击穿光谱）系统是一种先进的光谱分析技术，广泛应用于材料成分分析和元素检测。
专谱显微测量系统在 Mapping 方面的应用专谱光电的 ProSp-Micro 系列显微光谱测量系统在 Mapping 方面具有强大的功能，能够实现多种光谱测量和成像应用。以下是其在 Mapping 方面的具体应用和特点：1. 二维扫描 Mapping 功能ProSp-Micro 系列显微光谱测量系统可以选装二维电控扫描台，通过控制软件设置面扫描采样，获取一定范围内的逐点扫描光谱数据。这种功能可用于表征材料表面微观结构和光谱成像。2. 多种光谱测量模式显微荧光测量：系统可以进行显微荧光光谱测量，适用于研究生物样品、细胞和组织的荧光特性。显微拉曼测量：系统支持显微拉曼光谱测量，适用于材料成分分析和结构鉴定。显微反射测量：系统可以进行显微反射光谱测量，适用于材料表面反射特性的研究。拉曼激光器 结构小巧，采用短腔法、体式布拉格光栅（VBG）锁波长，实现窄线宽、稳功率、稳光谱输出。上海表面等离子体耦合共振器件专谱光电网站
专谱（ProSp）显微系统是一种高性能的显微光谱测量设备，由杭州谱镭光电技术有限公司开发。天津Sers芯片专谱光电哪家好
ProSp-ELQY 电致发光量子效率测试系统1.可调节高度的样品支架，在保证操作方便的同时，保证了每次安装的位置都相同，降低了人为操作的误差，提高了整体测试过程中的结果可靠度。2.模块化设备搭建，适用于手套箱内安装，对于制备的材料，可进行快速原位量子效率测试，使用更方便。可测参数：亮度色坐标主波长量子效率量子效率随激发功率的曲线辐射通量，电流密度。涂层配置PTFE，动态范围85000:1，配套电致发光量子效率测试系统**软件。天津Sers芯片专谱光电哪家好
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